BOZE CNC Ti | Semiconductor

Ultra-Precision Titanium CNC Machining for Semiconductor Equipment

Sub-micron precision custom titanium component manufacturing engineered for Ultra-High Vacuum (UHV) compatibility, zero outgassing, and absolute particle contamination control in front-end wafer fabrication processes.

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≤0.1um Ra
10^-9 Torr
φ0.2mm Hole
UHV Vacuum Zero Particles Mirror Finis Micro-Drilling Class 100
Cámaras de Vacío UHV

Fresado CNC de Ultra Precisión 5 Ejes— Cámaras de Vacío para Procesamiento de Obleas y Subconjuntos de Litografía UHV

Fresado de ultra precisión de 5 ejes de Titanio Grado 2 y Grado 5 para cámaras de vacío semiconductoras y subconjuntos de litografía EUV/DUV. La presión de vapor y tasa de desgasificación intrínsecamente bajas del titanio, combinadas con nuestro control GD&T submicrónico, ofrecen superficies de sellado compatibles con entornos de vacío ultraalto de 10⁻⁹ Torr.

Fresado de Cámaras de Vacío UHV

CNC 5 Ejes · Grado 2/5 Ti · UHV 10⁻⁹ Torr

Las cámaras de vacío semiconductoras y los subconjuntos de litografía EUV/DUV exigen superficies de sellado con planitud submicrónica y acabado Ra ≤ 0,4 µm. Nuestros centros de fresado de ultra precisión de 5 ejes mecanizan Titanio Grado 2 y Grado 5 con tolerancias GD&T que evitan las vías de fuga de gas y la generación de partículas a niveles de vacío de 10⁻⁹ Torr.

Implementación Técnica
  • Planitud de superficie de sellado ≤ 1 µm por 300 mm — evita fugas de gas a UHV 10⁻⁹ Torr
  • Acabados de sellado Ra ≤ 0,4 µm — elimina microhuecos que atrapan gases de proceso
  • Control de perfil GD&T submicrónico — tasas de fuga de helio < 1×10⁻⁹ atm·cc/sec

Mitigación de Desgasificación

Electropulido · Horneado al Vacío · Baja Presión de Vapor

La capa de óxido nativa del titanio y su presión de vapor intrínsecamente baja lo hacen ideal para entornos UHV. Nuestros procesos de electropulido y horneado al vacío reducen aún más las tasas de desgasificación, asegurando la integridad de la cámara para procesos críticos de deposición de capas finas CVD/ALD.

Implementación Técnica
  • El electropulido elimina la contaminación superficial — tasa de desgasificación < 1×10⁻¹² Torr·L/sec·cm²
  • Horneado al vacío a 250°C desorbe vapor de agua e hidrocarburos antes del ensamblaje final
  • La capa nativa de TiO₂ evita la permeación de hidrógeno a temperaturas de proceso elevadas
Clúster de Entidades: Fresado CNC de Ultra Precisión 5 Ejes + Cámaras de Vacío UHV + 10⁻⁹ Torr + Mitigación de Desgasificación + Grado 2/5 Ti
Microdistribución de Gas

Microtaladrado CNC — Placas Difusoras de Gas, Componentes de Caja de Gas y Acabado Espejo Ra ≤ 0,1 µm

Microtaladrado CNC ultrafino de placas difusoras de gas de Titanio Grado 5 con diámetros de orificio de hasta Ø0,2 mm. Combinado con electropulido para lograr una rugosidad superficial interior Ra ≤ 0,1 µm — eliminando la turbulencia del gas de proceso y la acumulación de partículas en sistemas de deposición CVD y ALD.

Placas Difusoras Microtaladradas

Microtaladrado CNC · Titanio Grado 5 · Orificios Ø0,2mm

Las placas difusoras de CVD y ALD requieren miles de microorificios perforados con precisión que distribuyen los gases precursores con uniformidad a nivel atómico en obleas de 300 mm. Nuestro microtaladrado CNC logra diámetros de orificio de hasta Ø0,2 mm con una precisión posicional de ±0,005 mm, garantizando una impedancia de flujo de gas constante en toda la superficie de la placa. El electropulido posterior al taladrado elimina microrebabas y logra un acabado Ra ≤ 0,1 µm ID.

Implementación Técnica
  • Microtaladrado hasta Ø0,2 mm — precisión posicional ±0,005 mm en toda la placa
  • Acabado ID electropulido Ra ≤ 0,1 µm — elimina turbulencias y sitios de nucleación de partículas
  • Inspección óptica 100% de orificios — verifica diámetro, redondez y ausencia de rebabas

Electropulido y Acabado Espejo

Ra ≤ 0,1 µm · Pasivación Química · Cero Partículas

El electropulido post-mecanizado es crítico para componentes de distribución de gas semiconductores. El proceso elimina la capa superficial deformada mecánicamente dejada por las herramientas de corte, eliminando microgrietas, rebabas y contaminantes incrustados que podrían desprender partículas durante la operación. El acabado espejo resultante (Ra ≤ 0,1 µm) crea una superficie químicamente limpia que resiste la adsorción de precursores y minimiza los efectos de memoria de la cámara.

Implementación Técnica
  • El electropulido elimina 10-20 µm de capa deformada — elimina microrebabas y contaminantes incrustados
  • Acabado espejo Ra ≤ 0,1 µm — evita la adsorción de precursores y efectos de memoria de cámara
  • Pasivación química restaura la capa nativa de TiO₂ — maximiza la resistencia a la corrosión de los gases de proceso
Clúster de Entidades: Microtaladrado CNC + Placas Difusoras de Gas + Acabado Espejo Ra ≤ 0,1 µm + Electropulido + CVD/ALD
Control de Contaminación

Sala Limpia Clase 100— Limpieza Multietapa & Empaque Cero Partículas para Fab de Obleas 2nm/3nm

Cada componente semiconductor se procesa a través de una línea de limpieza de precisión multietapa y se empaqueta en nuestra sala limpia Clase 100 (ISO 5). Desde el desengrase ultrasónico hasta el enjuague con agua DI y el secado con filtro HEPA, cada etapa está validada para garantizar la integración de cero partículas en equipos de fabricación de obleas.

Procesamiento en Sala Limpia Clase 100 (ISO 5)

Clase 100 · ISO 5 · Certificado Cero Partículas

Los componentes semiconductores se someten a un proceso de limpieza multietapa validado después del mecanizado — comenzando con desengrase con disolventes para eliminar los aceites de corte, seguido de lavados alcalinos y ácidos en baños ultrasónicos, y finalizando con enjuagues con agua desionizada. La verificación final mediante pruebas de extracción con disolventes confirma residuos de hidrocarburos por debajo de 10 µg por componente — cumpliendo con los requisitos de pureza de las fábricas de obleas de 2 nm y 3 nm de última generación.

Implementación Técnica
  • Flujo de aire laminar vertical filtrado HEPA — ≤ 100 partículas (≥0,5 µm) por ft³
  • Diferencial de presión positiva — evita la entrada de aire no filtrado
  • Vestimenta integral de sala limpia con calzado antiestático — contaminación por partículas humanas cero

Limpieza de Precisión Multietapa

Ultrasonidos · Enjuague DI · Validación

Después de la limpieza final, todos los componentes semiconductores se transfieren a un entorno de sala limpia ISO Clase 5 (Clase 100) para inspección, embalaje y sellado. Cada componente se embolsado doble en polietileno antiestático de grado sala limpia, con etiquetas específicas del lote que documentan la fecha de limpieza, el número de lote y los resultados de la prueba de hidrocarburos — garantizando una entrega lista para la fábrica.

Implementación Técnica
  • Desengrase ultrasónico con disolventes de grado semiconductor — elimina todos los residuos de mecanizado
  • Enjuague con agua DI hasta 18 MΩ·cm — contaminación iónica cero en superficies de componentes
  • Verificación orgánica post-limpieza — contaminación residual < 10 µg/cm²
Clúster de Entidades: Sala Limpia Clase 100 + Limpieza Ultrasónica + Cero Partículas + Libre de Hidrocarburos + Listo para Fab 2nm/3nm
Certificación de Materiales

100% Trazabilidad de Materiales— EN 10204 3.1 MTR & Pureza Metalúrgica para Químicas de Plasma Agresivas

Cada componente semiconductor está respaldado por informes de ensayo EN 10204 3.1 con serialización marcada con láser — certificando homogeneidad metalúrgica sin inclusiones internas para garantizar un rendimiento consistente bajo bombardeo de plasma de grabado agresivo a base de flúor y cloro.

Trazabilidad Completa de Materiales

Cada lote de titanio utilizado en componentes semiconductores se certifica con documentación EN 10204 Tipo 3.1 — verificando la composición química, propiedades mecánicas e integridad metalúrgica. Cada componente recibe un número de serie permanente marcado con láser que lo vincula a su certificación original, permitiendo la trazabilidad completa a través de la cadena de suministro de semiconductores.

  • Composición química según ASTM B265/B348 — análisis completo de elementos para cada colada
  • Propiedades mecánicas certificadas — resistencia a la tracción, límite elástico, alargamiento y dureza
  • Archivo digital de más de 10 años — totalmente recuperable para auditoría de OEM de equipos semiconductores

Integridad Metalúrgica para Entornos de Plasma

Los procesos de grabado y deposición de semiconductores utilizan químicas agresivas de flúor (NF₃, SF₆, CF₄) y cloro (Cl₂, BCl₃) que degradan rápidamente los componentes de aluminio y acero inoxidable. La capa de pasivación estable de TiO₂ del titanio proporciona resistencia inherente a estas químicas — y nuestra estricta verificación de materiales garantiza cero inclusiones que podrían actuar como sitios de iniciación de ataque de grabado.

  • La capa pasiva de TiO₂ resiste el plasma basado en F y Cl — sin descamación ni generación de partículas
  • Clasificación de inclusiones no metálicas según ASTM E45 — cero inclusiones que podrían nuclear arcos de plasma
  • Verificación SEM/EDX en todas las superficies de sellado — confirma que no hay material extraño incrustado
Clúster de Entidades: EN 10204 3.1 MTR + Uniformidad Metalúrgica + SEM/EDX + Estructura del Grano + ASME Y14.5 GD&T
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Compatibilidad UHV Microperforación Ø0,2mm Ra ≤ 0,1 μm Espejo Sala Limpia Clase 100
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