BOZE CNC Ti | Semiconductor

Ultra-Precision Titanium CNC Machining for Semiconductor Equipment

Sub-micron precision custom titanium component manufacturing engineered for Ultra-High Vacuum (UHV) compatibility, zero outgassing, and absolute particle contamination control in front-end wafer fabrication processes.

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≤0.1um Ra
10^-9 Torr
φ0.2mm Hole
UHV Vacuum Zero Particles Mirror Finis Micro-Drilling Class 100
Camere a Vuoto UHV

Fresatura CNC di Ultra Precisione 5 Assi— Camere a Vuoto per Processamento Wafer e Sottoassiemi di Litografia UHV

Fresatura a 5 assi di ultra precisione di Titanio Grado 2 e Grado 5 per camere a vuoto per semiconduttori e sottoassiemi di litografia EUV/DUV. La pressione di vapore e il tasso di degassamento intrinsecamente bassi del titanio — combinati con il nostro controllo GD&T submicrometrico — offrono superfici di tenuta compatibili con ambienti di ultra alto vuoto di 10⁻⁹ Torr.

Fresatura di Camere a Vuoto UHV

CNC 5 Assi · Grado 2/5 Ti · UHV 10⁻⁹ Torr

Le camere a vuoto per semiconduttori e i sottoassiemi di litografia EUV/DUV richiedono superfici di tenuta con planarità submicrometrica e finitura Ra ≤ 0,4 µm. I nostri centri di fresatura a 5 assi di ultra precisione lavorano Titanio Grado 2 e Grado 5 con tolleranze GD&T che prevengono percorsi di perdita di gas e generazione di particelle a livelli di vuoto di 10⁻⁹ Torr.

Implementazione Tecnica
  • Planarità della superficie di tenuta ≤ 1 µm per 300 mm — previene perdite di gas a UHV 10⁻⁹ Torr
  • Finitura di tenuta Ra ≤ 0,4 µm — elimina micro-interstizi che intrappolano i gas di processo
  • Controllo del profilo GD&T submicrometrico — tassi di perdita di elio < 1×10⁻⁹ atm·cc/sec

Mitigazione del Degassamento

Elettropolitura · Vuoto-Baking · Bassa Pressione di Vapore

Lo strato di ossido nativo del titanio e la sua pressione di vapore intrinsecamente bassa lo rendono ideale per ambienti UHV. I nostri processi di elettropolitura e vuoto-baking riducono ulteriormente i tassi di degassamento, garantendo l'integrità della camera per i processi critici di deposizione di film sottili CVD/ALD.

Implementazione Tecnica
  • L'elettropolitura rimuove la contaminazione superficiale — tasso di degassamento < 1×10⁻¹² Torr·L/sec·cm²
  • Vuoto-baking a 250°C desorbe vapore acqueo e idrocarburi prima dell'assemblaggio finale
  • Lo strato nativo di TiO₂ previene la permeazione dell'idrogeno a temperature di processo elevate
Cluster di Entità: Fresatura CNC di Ultra Precisione 5 Assi + Camere a Vuoto UHV + 10⁻⁹ Torr + Mitigazione del Degassamento + Grado 2/5 Ti
Microdistribuzione Gas

Microforatura CNC — Piastre di Distribuzione Gas, Componenti di Scatola Gas e Finitura a Specchio Ra ≤ 0,1 µm

Microforatura CNC ultrafine di piastre di distribuzione gas in Titanio Grado 5 con diametri di foro fino a Ø0,2 mm. Combinata con elettropolitura per ottenere rugosità superficiale interna Ra ≤ 0,1 µm — eliminando la turbolenza del gas di processo e l'accumulo di particelle nei sistemi di deposizione CVD e ALD.

Piastre di Distribuzione Microforate

Microforatura CNC · Titanio Grado 5 · Fori Ø0,2mm

Le piastre di distribuzione gas CVD e ALD richiedono migliaia di microfori lavorati con precisione che distribuiscono i gas precursori con uniformità a livello atomico su wafer da 300 mm. La nostra microforatura CNC raggiunge diametri di foro fino a Ø0,2 mm con precisione posizionale di ±0,005 mm — garantendo impedenza del flusso di gas costante su tutta la superficie della piastra. L'elettropolitura post-foratura rimuove le micro-bave e raggiunge una finitura Ra ≤ 0,1 µm ID.

Implementazione Tecnica
  • Microforatura fino a Ø0,2 mm — precisione posizionale ±0,005 mm su tutta la piastra
  • Finitura ID elettropolita Ra ≤ 0,1 µm — elimina turbolenze e siti di nucleazione di particelle
  • Ispezione ottica 100% dei fori — verifica diametro, rotondità e assenza di bave

Elettropolitura & Finitura a Specchio

Ra ≤ 0,1 µm · Passivazione Chimica · Zero Particelle

L'elettropolitura post-lavorazione è critica per i componenti di distribuzione gas per semiconduttori. Il processo rimuove lo strato superficiale deformato meccanicamente lasciato dagli utensili da taglio — eliminando microfratture, bave e contaminanti incrostati che potrebbero rilasciare particelle durante il funzionamento. La finitura a specchio risultante (Ra ≤ 0,1 µm) crea una superficie chimicamente pulita che resiste all'adsorbimento dei precursori e minimizza gli effetti di memoria della camera.

Implementazione Tecnica
  • L'elettropolitura rimuove 10-20 µm di strato deformato — elimina micro-bave e contaminanti incrostati
  • Finitura a specchio Ra ≤ 0,1 µm — previene l'adsorbimento dei precursori e gli effetti di memoria della camera
  • Passivazione chimica ripristina lo strato nativo di TiO₂ — massimizza la resistenza alla corrosione dei gas di processo
Cluster di Entità: Microforatura CNC + Piastre di Distribuzione Gas + Finitura a Specchio Ra ≤ 0,1 µm + Elettropolitura + CVD/ALD
Controllo della Contaminazione

Camera Bianca Classe 100— Pulizia Multifase & Confezionamento Zero Particelle per Fab Wafer 2nm/3nm

Ogni componente per semiconduttori viene processato attraverso una linea di pulizia di precisione multifase e confezionato nella nostra camera bianca Classe 100 (ISO 5). Dall'sgrassaggio a ultrasuoni al risciacquo con acqua DI e all'asciugatura con filtro HEPA, ogni fase è validata per garantire l'integrazione a zero particelle nelle apparecchiature di fabbricazione di wafer.

Lavorazione in Camera Bianca Classe 100 (ISO 5)

Classe 100 · ISO 5 · Certificato Zero Particelle

I componenti a semiconduttore vengono sottoposti a un processo di pulizia multifase validato dopo la lavorazione — iniziando con lo sgrassaggio con solventi per rimuovere gli oli da taglio, seguito da lavaggi alcalini e acidi in bagni a ultrasuoni e terminando con risciacqui con acqua deionizzata. La verifica finale tramite test di estrazione con solvente conferma residui di idrocarburi inferiori a 10 µg per componente — soddisfacendo i requisiti di purezza delle fabbriche di wafer 2nm e 3nm all'avanguardia.

Implementazione Tecnica
  • Flusso d'aria laminare verticale filtrato HEPA — ≤ 100 particelle (≥0,5 µm) per ft³
  • Differenziale di pressione positiva — impedisce l'ingresso di aria non filtrata
  • Tuta integrale da camera bianca con calzature antistatiche — contaminazione da particelle umane zero

Pulizia di Precisione Multifase

Ultrasuoni · Risciacquo DI · Validazione

Dopo la pulizia finale, tutti i componenti a semiconduttore vengono trasferiti in un ambiente di camera bianca ISO Classe 5 (Classe 100) per ispezione, imballaggio e sigillatura. Ogni componente viene doppiamente insaccato in polietilene antistatico di grado camera bianca, con etichette specifiche del lotto che documentano data di pulizia, numero di lotto e risultati del test sugli idrocarburi — garantendo una consegna pronta per la fabbrica.

Implementazione Tecnica
  • Sgrassaggio a ultrasuoni con solventi di grado semiconduttore — rimuove tutti i residui di lavorazione
  • Risciacquo con acqua DI fino a 18 MΩ·cm — contaminazione ionica zero sulle superfici dei componenti
  • Verifica organica post-pulizia — contaminazione residua < 10 µg/cm²
Cluster di Entità: Camera Bianca Classe 100 + Pulizia a Ultrasuoni + Zero Particelle + Senza Idrocarburi + Pronto per Fab 2nm/3nm
Certificazione dei Materiali

100% Tracciabilità dei Materiali— EN 10204 3.1 MTR & Purezza Metallurgica per Chimiche Plasma Aggressive

Ogni componente a semiconduttore è supportato da rapporti di prova EN 10204 3.1 con serializzazione marcata al laser — certificando omogeneità metallurgica senza inclusioni interne per garantire prestazioni costanti sotto bombardamento plasma aggressivo a base di fluoro e cloro.

Tracciabilità Completa dei Materiali

Ogni lotto di titanio utilizzato nei componenti a semiconduttore è certificato con documentazione EN 10204 Tipo 3.1 — verificando composizione chimica, proprietà meccaniche e integrità metallurgica. Ogni componente riceve un numero di serie permanente marcato al laser che lo collega alla sua certificazione originale, consentendo la piena tracciabilità attraverso la catena di fornitura dei semiconduttori.

  • Composizione chimica secondo ASTM B265/B348 — analisi completa degli elementi per ogni colata
  • Proprietà meccaniche certificate — resistenza a trazione, snervamento, allungamento e durezza
  • Archivio digitale di oltre 10 anni — completamente recuperabile per audit OEM di apparecchiature a semiconduttori

Integrità Metallurgica per Ambienti Plasma

I processi di incisione e deposizione dei semiconduttori utilizzano chimiche aggressive a base di fluoro (NF₃, SF₆, CF₄) e cloro (Cl₂, BCl₃) che degradano rapidamente i componenti in alluminio e acciaio inossidabile. Lo strato di passivazione stabile di TiO₂ del titanio fornisce resistenza intrinseca a queste chimiche — e la nostra rigorosa verifica dei materiali garantisce zero inclusioni che potrebbero fungere da siti di innesco di attacco incisione.

  • Lo strato passivo di TiO₂ resiste al plasma a base di F e Cl — senza sfaldamento o generazione di particelle
  • Classificazione delle inclusioni non metalliche secondo ASTM E45 — zero inclusioni che potrebbero innescare arco di plasma
  • Verifica SEM/EDX su tutte le superfici di tenuta — conferma assenza di materiale estraneo incrostato
Cluster di Entità: EN 10204 3.1 MTR + Uniformità Metallurgica + SEM/EDX + Struttura del Grano + ASME Y14.5 GD&T
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Compatibilità UHV Microforatura Ø0,2mm Ra ≤ 0,1 μm Specchio Camera Bianca Classe 100
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